Микроскопы подвержены влиянию хаоса?
Проф. Раман и докторант Шуйцин Ху (Shuiqing Hu) выявили с помощью серий экспериментов величину ошибок, вызванных эффектом хаоса. Эта информация поможет исследователям делать более точные измерения на
Принцип работы АСМ следующий: игла микроскопа, присоединенная к пластине, подносится к поверхности объекта. Пластина начинает совершать колебания вместе с колебаниями пьезоэлектрического кристалла, который, в свою очередь, начинает осциллировать, если на него подается напряжение. Меняя напряжение на кристалле, можно контролировать амплитуду колебаний иглы. Поскольку игла движется вверх и вниз, на нее начинают влиять различные силы, в том числе и межатомные силы притяжения Ван дер Ваальса. Влияние их увеличивается по мере приближения иглы к объекту. Учитывая величины этих сил, исследователи позиционируют иглу максимально близко к поверхности объекта. Таким образом, игла начинает колебаться соответственно изменениям контуров объекта на атомном уровне, и ее колебания передаются пластинке. Колебания пластинки отслеживаются, и по ним воссоздается топология поверхности объекта. Такой способ использования микроскопа часто называют осциллирующим режимом.
«Чтобы картина, полученная этим способом, была точной, колебания иглы должны четко повторять рельеф объекта. Но иногда игла внезапно начинает колебаться хаотично, генерируя ошибки в измерениях», поясняет проф. Раман.
Чтобы выяснить причину этого явления, Ху увеличил движущую силу пьезоэлектрического кристалла, в то время как микроскоп работал в осциллирующем режиме. Исследование показало, что увеличение амплитуды колебаний пластины до определенной величины приводило к резким хаотическим колебаниями. Затем, при небольшом добавочном увеличении амплитуды колебания возвращались в норму, а при дальнейшем увеличении снова возникали хаотические колебания.
Ошибки, вызванные влиянием эффекта хаоса, приводят к погрешностям всего в несколько нанометров.
По словам проф. Рамана, ошибки «являются незначительными по сегодняшним стандартам», поскольку измерения производятся в масштабе приблизительно 1,5 тыс. нм, и несколько нанометров роли не играют.
Но уже разрабатываются более точные технологии, масштабы измерений для которых составят 23 нм, и в будущем полученная информация позволит избежать погрешностей измерения, связанных с хаотическим эффектом.
В результате проведенных исследований ученым также удалось выяснить, какие типы пластин в АСМ более подвержены влиянию хаотических процессов в зависимости от материала и жесткости.
Другим важным открытием, по словам проф. Рамана, является тот факт, что тот же вид хаоса присутствует и в мире обычной физики. Исследователи полагают, что хаотические отклонения микроскопа могут быть вызваны силами, связанными с квантовой механикой.
«Хаос и нанотехнологию редко упоминают вместе, но нужно знать, что хаос встречается не только в макросистемах», сказал Раман.
Эффект хаоса обычно наблюдается в явлениях большого масштаба погодных явлениях, движениях космических объектов, внезапных изменениях в сердечных ритмах или действиях механических систем. В этих случаях хаотическое поведение, как правило, вызывается незначительными и, #gallery#