Увеличена скорость работы сканирующих туннельных микроскопов

Американские ученые разработали радиочастотную схему для сканирующих туннельных микроскопов, которая позволяет повысить скорость получения изображений в 100 раз. Благодаря такому усовершенствованию исследователи смогут получить более детальную информацию о движении электронов в твердом теле.

Одним из недостатков сканирующих туннельных микроскопов (СТМ) является их ограниченное временное разрешение или полоса пропускания. Д-ру Камилу Экинчи (Kamil Ekinci) и его коллегам из университетов Корнеля и Бостона удалось увеличить ширину полосы пропускания в 100 раз – до 10 МГц. Ученые разработали резонансную индукционно-емкостную схему для СТМ, которая позволяет существенно уменьшить паразитные емкости, в результате чего увеличивается скорость измерения туннельного тока, сообщает PhysicsWorld.

Разработчики считают, что это усовершенствование будет полезно для исследователей, занимающихся изучением экзотических материалов, таких как, например, сверхпроводники.