Ученые научились управлять отдельными нанопроводами

Ученые из Национального института стандартов и технологий (NIST) разработали технологию, с помощью которой можно произвольно размещать отдельные нанопровода на полупроводниковой подложке. Эта технология позволяет им исследовать свойства нанопроводов, используя только оптический микроскоп и обычный метод фотолитографии.

Для исследования свойств отдельного нанопровода группа ученых под руководством д-ра Курта Рихтера (Curt Richter) использовала оптический микроскоп высокого разрешения и специальные «щипцы», диаметром около 100 нм.

Процесс состоит из двух стадий – на первом этапе нанопровода выращиваются на специальной вспомогательной подложке. Затем они с помощью статического электричества захватываются «щипцами» и помещаются на тестируемую поверхность. Изменяя положение «щипцов» или подложки, исследователи помещают нанопровод в необходимое место.

Д-р Рихтер и его коллеги применяли этот метод для нанопроводов диаметром не менее 60 нм, сообщает EurekAlert. Однако ученые считают, что этот предел можно понизить, используя микроскоп более высокого разрешения и более тонкие «щипцы».