Скоро появятся микроскопы на суперлинзах

Учеными из Германии и Великобритании получены первые изображения биологических и наноэлектронных материалов с использованием микроскопии близкого поля.

Ранее ученые использовали сканирующие микроскопы близкого поля (SNOM), разрешающая способность которых была ограничена. Теперь же на помощь пришла технология суперлинз, широко использующихся при нанофотонных исследованиях. Суперлинза — это тонкая пленка SiC толщиной всего 880 нанометров.

В ходе эксперимента также выявились детали, связанные с работой суперлинз, использованных учеными в SNOM-микроскопии.

Потенциальные применения нового микроскопа — исследования биологических структур в их естественной среде. Разработка имеет очень важное значение, так как для изучения клеток и биомолекул с помощью электронных микроскопов приходится убивать клетку.

Более подробная информация о новом открытии будет представлена в разделе R&D.CNews