Микроскоп cможет распознавать атомы различных элементов

Японские ученые разработали технологию, позволяющую идентифицировать атомы различных химических элементов на поверхности образца с помощью атомного силового микроскопа. Благодаря новой технологии специалисты смогут определять структурный состав сложных материалов и создавать новые материалы с необычными свойствами.

Обычно атомные силовые микроскопы используются для определения расположения отдельных атомов на поверхности исследуемого образца. Д-р Йошиаки Сугимото (Yoshiaki Sugimoto) из университета Осаки нашел способ химической идентификации отдельных атомов на поверхности с помощью атомного силового микроскопа.

Принцип действия атомного силового микроскопа основан на использовании сил притяжении или отталкивания, возникающих между иглой микроскопа и поверхностью образца, в зависимости от расстояния между ними.

Зависимость между силой и расстоянием слегка различается для атомов разных химических элементов. Используя это различие, ученые смогли идентифицировать атомы различных элементов на поверхности образца.

Ранее такие эксперименты проводились только при очень низких температурах. Тщательно компенсируя движение образца, возникающее при высоких температурах, группа д-ра Сугимото смогла идентифицировать атомы на его поверхности при комнатной температуре, сообщает NewScientist.

По мнению ученых, возможность различать атомы различных элементов на поверхности может использоваться для проведения исследований в области нанотехнологий и создания приборов на молекулярном уровне.