Молодая высокотехнологичная компания из Швейцарии разработала систему трехмерной визуализации в реальном масштабе времени с микронной точностью.
Компания Heliotis, созданная в швейцарском центре электроники и микротехники (Centre Suisse dElectronique et de Microtechnique, CSEM), развивает прорывную технологию параллельной оптической томографии низкой когерентности (parallel optical low-coherence tomography, pOCT). В штате компании шесть сотрудников.
Технология pOCT используется для построения трехмерной поверхности объекта (топографии) и внутреннего его строения (томографии) в реальном масштабе времени. Как сообщает Optics.org, в качестве детектора используется 2D массив CMOS-детекторов, в котором каждый пиксель получает и обрабатывает информацию параллельно.
«CMOS-сенсор состоит из массива интеллектуальных приемников размером 144 на 90 пикселей, осуществляющих обработку сигнала, говорит Руди Фрей (Ruedi Frey), исполнительный директор Heliotis. CMOS-датчик обеспечивает получение 6 тыс. кадров в секунду, что позволяет подучать от 10 до 15 трехмерных изображений в секунду. Вертикальное разрешение в настоящее время составляет от 10 до 12 микрон, однако мы надеемся улучшить его до значений 45 микрон».
Система pOCT состоит из интерферометра Тваймана-Грина, сверхлюминисцентного диода (SLED), массива CMOS-датчиков, а также вспомогательной электроники и координатного стола. Единичный проход референтного пучка интерферометра позволяет просканировать весь образец целиком и получить его топографическое либо томографическое изображение.
«Если материал светопроницаем, наша система позволяет изучить его изнутри, поясняет г-н Фрей. Бесцветное стекло или жидкости легкопроницаемы, в то время как работа с рассеивающими материалами такими, как кожа или зубы, представляет большую сложность. В подобных светорассеивающих материалах мы можем достичь глубины проникания, составляющей 0,5 мм».
Первоочередной целью Heliotis является использование технологии pOCT в биомедицинских приложениях. Тем не менее, считает г-н Фрей, она идеально подходит для решения широкого круга задач. «Технология может использоваться для контроля качества крепления кристалла к подложке, а также в таких приложениях, где требуется измерять объемы жидкости например, в лабораторной автоматике», добавляет он.