Скоро появятся микроскопы на суперлинзах
Ранее ученые использовали... Учеными из Германии и Великобритании получены первые изображения биологических и наноэлектронных материалов с использованием микроскопии близкого поля.
Ранее ученые использовали сканирующие микроскопы близкого поля (SNOM), разрешающая способность которых была ограничена. Теперь же на помощь пришла технология суперлинз, широко использующихся при нанофотонных исследованиях. Суперлинза это тонкая пленка SiC толщиной всего 880 нанометров.
В ходе эксперимента также выявились детали, связанные с работой суперлинз, использованных учеными в
Более подробная информация о новом открытии будет представлена в разделе R&D.CNews