Разработана система для исследования свойств материалов на наноуровне

13.12.2007, ЧТ, 19:10, Мск

Ученые из Национального института стандартов и технологий разработали систему, которая позволяет получать карту распределения механических свойств материалов с нанометровым разрешением. Эта технология может применяться при разработке новых композитных материалов и тонкопленочных структур.

Новая система состоит из атомного силового микроскопа (АСМ) а также специально разработанного программного обеспечения и электроники, с помощью которых обычная карта поверхности материала, получаемая микроскопом, преобразуется в двухмерное изображение распределения механических свойств материала вблизи его поверхности.

Исследователи использовали эту систему для составления карты распределения упругих свойств в тонких пленках. Получение изображения размером 256x256 пикселей, которое охватывало область поверхности микрометрового размера, требовало всего 20-25 минут, сообщает EurekAlert.