Оптические микроскопы выходят на новые рубежи

Учеными из Германии и Великобритании получены первые изображения биологических и наноэлектронных материалов с использованием новых суперлинз с отрицательным показателем преломления. Ранее были сконструированы различные разновидности суперлинз для излучения в микроволновом диапазоне. Речь шла, правда, не о сферических, а о "плоско-параллельных" линзах, не обладающих единым фокусом, или о цилиндрических линзах, способных фокусировать излучение только в одном из двух перпендикулярных направлений. Кроме того, от миллиметровых волн до оптического диапазона предстояла длинная дорога: ведь для создания суперлинзы для видимого света необходимо существенно (в тысячи раз) уменьшить размер всех параметров оптического элемента.

Теперь же ученые из института Макса Планка и университета Техаса смогли создать пленку SiC толщиной всего 880 нанометров, которая и выступила в роли суперлинзы, сообщает Nanotechweb.

Ранее ученые из Калифорнийского университета Беркли с помощью тонкой серебряной фольги и ультрафиолетового света смогли получить изображения с разрешением около 60 нм матрицы нанопроводников и слова "NANO", нанесенного на органическом полимере. Дифракционный предел разрешения обычных оптических микроскопов - 400 нм (в отдельных случаях - около 200 - 300 нм).

Развитие технологии суперлинз послужит также базой для расширения емкости DVD-дисков. Как предполагают ученые, на таком сверхъемком DVD можно будет хранить всю Библиотеку Конгресса США, а это уже действительно фантастическая емкость для 12-сантиметрового диска.